基于改进YOLO V5的缺陷识别与定量分析

刘洋, 李全勇, 顾健, 杨帆, 王文博

无损检测 ›› 2023, Vol. 45 ›› Issue (1) : 14-19,22.

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无损检测 ›› 2023, Vol. 45 ›› Issue (1) : 14-19,22. DOI: 10.11973/wsjc202301003
试验研究

基于改进YOLO V5的缺陷识别与定量分析

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Defect identification and quantitative analysis method based on improved YOLO V5

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