C/C复合材料显微电子计算机断层扫描成像特征

何深远, 刘怿欢, 敖波

无损检测 ›› 2020, Vol. 42 ›› Issue (7) : 56-60.

PDF(2704 KB)
PDF(2704 KB)
无损检测 ›› 2020, Vol. 42 ›› Issue (7) : 56-60. DOI: 10.11973/wsjc202007013
试验研究

C/C复合材料显微电子计算机断层扫描成像特征

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
作者信息 +

Feature of carbon/carbon composites based on micro-CT

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
Author information +
文章历史 +

本文亮点

{{article.keyPoints_cn}}

HeighLight

{{article.keyPoints_en}}

摘要

{{article.zhaiyao_cn}}

Abstract

{{article.zhaiyao_en}}

关键词

Key words

本文二维码

引用本文

导出引用
{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2020, 42(7): 56-60 https://doi.org/10.11973/wsjc202007013
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2020, 42(7): 56-60 https://doi.org/10.11973/wsjc202007013
中图分类号:

参考文献

参考文献

{{article.reference}}

基金

版权

{{article.copyrightStatement_cn}}
{{article.copyrightLicense_cn}}
PDF(2704 KB)

Accesses

Citation

Detail

段落导航
相关文章

/