基于函数型数据分析的半导体生产过程监控

黎敏, 谢玄, 陈泽, 杨孟瑶, 杨德斌, 蒋靖

机械工程学报 ›› 2018, Vol. 54 ›› Issue (16) : 62-69.

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机械工程学报 ›› 2018, Vol. 54 ›› Issue (16) : 62-69. DOI: 10.3901/JME.2018.16.062
特邀专栏:制造物联网与智能制造服务技术

基于函数型数据分析的半导体生产过程监控

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Monitoring of Semiconductor Manufacturing Process Based on Functional Data Analysis

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2018, 54(16): 62-69 https://doi.org/10.3901/JME.2018.16.062
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2018, 54(16): 62-69 https://doi.org/10.3901/JME.2018.16.062
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{{article.reference}}

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