IGBT模块焊层的被动热循环可靠性分析

曾杰, 檀浩浩, 杨方, 周望君, 李亮星, 常桂钦, 罗海辉

焊接学报 ›› 2023, Vol. 44 ›› Issue (7) : 123-128.

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焊接学报 ›› 2023, Vol. 44 ›› Issue (7) : 123-128. DOI: 10.12073/j.hjxb.20220517002
研究论文

IGBT模块焊层的被动热循环可靠性分析

    {{javascript:window.custom_author_cn_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_CN}}
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Reliability analysis of solder layer of IGBT module under passive thermal cycling

    {{javascript:window.custom_author_en_index=0;}}
  • {{article.zuoZhe_EN}}
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{{article.keyPoints_cn}}

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{{article.keyPoints_en}}

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{{article.zhaiyao_cn}}

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{{article.zhaiyao_en}}

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{{article.zuoZheCn_L}}. {{article.title_cn}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_CN}}, 2023, 44(7): 123-128 https://doi.org/10.12073/j.hjxb.20220517002
{{article.zuoZheEn_L}}. {{article.title_en}}[J]. {{journal.qiKanMingCheng_EN}}, 2023, 44(7): 123-128 https://doi.org/10.12073/j.hjxb.20220517002
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{{article.reference}}

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{{article.copyrightStatement_cn}}
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